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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDVM-u
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XDVM-W X-射线荧光镀层厚度测试仪
技术参数:1.涂镀层厚度的测量采用X-射线荧光测试方法,符合技术标准DIN50987,ISO3497和ASTM B568; 2.测量箱结构坚固,使用合格的机械和电气部件; 3.测量箱外部尺寸
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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDLM系列
摄像机 10.测量开始/结束按钮,X-射线头部上/下按钮及LED状态指示灯与测试箱集成在一体。 FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线
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X-射线荧光镀层厚度测试仪XUL系列
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X-射线荧光镀层厚度测试仪XDL-B系列
LED状态指示灯的测量开始/结束按钮与测试箱集成在一体 FISCHERSCOPE® XDL®-B是一款基于Windows™ 的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统。测量方向从上往下。 仪器简介
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菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,独有多毛细孔X 射线光学系统设计,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款应用广泛的能量色散
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日立 FT110A X射线荧光镀层厚度测量仪
、比较表示使用电源:220V/7.5A自1978年以来取得傲人销量的X射线荧光镀层厚度测量仪的第八代产品FT110A。在测量精度、操作性能、软件上有新的优化。 通过自动定位功能,只需把样品放在样品
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日立 SFT-110 X射线荧光镀层厚度测量仪
测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi)检测器:比例计数管X射线源:空冷式小型X射线管(50kV、1mA)准直器:O型:Φ0.1mm、Φ0.2mm样品观察: CCD摄像头(可广域观察)样品
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日立 FT9500系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
对以往X射线荧光镀层厚度测量仪由于照射强度不足而无法得到理想精度的导线架、插接头、柔性线路板等微小部件及薄膜进行测量。同时搭载高计数率、高分辨率的半导体检测器,在测量镀层厚度的同时,也能对RoHS
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日立 FT9300系列 X射线荧光镀层厚度测量仪
技术参数:可测量元素:原子序数22(Ti)~83(Bi) X射线源:小型空气冷却型高功率X射线管球(Mo靶) 管电压: 50kV 管电流: 1.5mA
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